状态：

型号：

UH4150

费用：

主要用途：

基于紫外可见分光光度法原理，利用物质分子对紫外可见光谱区的辐射吸收来进行分析的一种分析仪器。主要由光源、单色器、吸收池、检测器和信号处理器等部件组成。

状态：

型号：

LCT-P2000

费用：

主要用途：

液晶材料测试可以提供液晶材料性能评测，包括液晶材料的光电性能和液晶材料的物理性能方面的评测。由长春光机所研制，国内唯一应用于液晶器件测试方面设备通过计算机控制数据的采集和处理并给出测试结果的多参数检测仪器，具有测量精度高、系统重复性好、操作简便和一机多用等特点。vt曲线、回应速度、视角、预倾角延迟量、液晶盒厚、色坐标

状态：

型号：

ALCT-PP1+

费用：

主要用途：

液晶材料测试可以提供液晶材料性能评测，包括液晶材料的光电性能和液晶材料的物理性能方面的评测。搭载精准控温系统，通过电流法准确测试出相列向液晶的物理性能参数，为行业内标准的测试设备。展曲弹性常数K11、弯曲弹性常熟K33、介电常数Ɛ⊥、  Ɛ∥   、正性液晶旋转粘度  γ1

状态：

型号：

IS50

费用：

主要用途：

iS50 FTIR 光谱仪是配有附件和集成软件的一体式材料分析工作站，能够轻松解决您的分析难题。Nicolet iS50 傅立叶变换红外光谱仪设计十分灵活 ，可以从一个简单的 FTIR 工作台升级到能够获取从远红外光到可见光光谱的全自动多光谱范围系统。可广泛用于对物质化学结构定性定量的表征，实时反应状态监控等。化学结构定性分析、定量分析、反应转化率测试。

状态：

型号：

Newport M-OTS-SST-48-8-I SmartTable Genesis MX Series

费用：

主要用途：

基于激光全息技术制造全息光栅，通过两束激光同时照亮全息材料，发生双光束干涉，全息材料以折射率变化分布的形式记录下干涉条纹分布，干涉条纹与光栅结构对应。设备具有曝光工艺效率高，良品率高，光栅组合自由度高、光栅结构灵活，可进行角度复用。通过对全息材料进行干涉曝光形成光栅，能够获得衍射效率、散射率、透过率、雾度、折射率调制度、图像亮度等参数信息，可以有效评判全息材料各方面性能。全息材料的干涉曝光，可制备一维光波导和体全息光栅，光栅形状可控。

状态：

型号：

HAAS-2000

费用：

主要用途：

光通量测试能够快速准确测试光谱功率分布，并能在可见光波段（380nm-780nm）计算和显示各种光度学、色度学和辐射度学参数。提供准确、可靠的光度学和色度学测试参数，测试报告规范、合理，便于国际交流和ISO9000体系管理。测试波段:380nm-780nm,可测<1μs极快闪光全谱，积分时间9ms-60s

状态：

型号：

SR-Mapping

费用：

主要用途：

主要用于电子、光学、涂料、化工等行业。在电子行业，可以用于测量印刷线路板、半导体材料的膜厚；在光学行业，可以用于测量消费电子产品如手机、电视等设备的涂层厚度；在涂料和化工行业，可以用于测量各种涂料和化学剂的膜厚可以应用于各类无色膜层的测试SR-Mapping 系列利用反射干涉的原理进行无损测量，通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱，同时搭配R-Theta位移台，兼容6到12寸样品，可以对整个样品进行快速扫描，快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息，并对于膜厚均匀性做出评价主要功能：测试材料膜材的厚度主要技术指标：核心算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析，膜厚重复性测量精度：0.02nm，全自动测量，测量点数跟位置在Recipe中可根据需要编辑 ，测试波长；380nm-1050nm，FFT分析厚膜、曲线拟合分析法分析薄膜的物理参数信息。